Семинар по анализу поверхности в микро-, наноэлектронике, полупроводниковой промышленности
| Последние новости |
|
[03.02.2012]
Семинар по анализу поверхности в микро-, наноэлектронике, полупроводниковой промышленности
Читать далее»
|
|
[01.02.2012]
Серия вебинаров по атомно-силовой микроскопии
Читать далее»
|
|
[17.01.2012]
Зимний симпозиум и школа по хемометрике
Читать далее»
|
|
[12.01.2012]
10-я международная специализированная выставка "Aналитика Экспо-2012"
Читать далее»
|
|
[11.01.2012]
Международный семинар по системам для наномеханических испытаний в Германии
Читать далее»
|
|
[21.12.2011]
Поздравление с наступающими новогодними праздниками
Читать далее»
|
|
[09.12.2011]
Анонс курсов повышения квалификации INTERTECH Corporation в МИТХТ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
|
|
[28.11.2011]
Webinar Thermo Scientific по элементному анализу в пищевой отрасли
|
|
...История новостей
|
 |
|
|
[03.02.2012]
Семинар по анализу поверхности в микро-, наноэлектронике, полупроводниковой промышленности
14 февраля 2012г. состоится семинар INTERTECH Corporation "Новейшее оборудование компании KLA-Tencor (США) для инспекции и анализа поверхности в микро-, наноэлектронике, полупроводниковой промышленности".
Место проведения семинара - ОАО "Мосэлектронпроект".
Программа семинара
О компании KLA-Tencor
Участие в семинаре - бесплатное, но требуется обязательная предварительная регистрация (нажмите кнопку "отправить заявку").
|
|
« вернуться
|
