Приборы для химического анализа поверхности.

    SIGMA PROBE - рентгеновский фотоэлектронный спектрометр (XPS), отличающийся возможностью высокоэффективного анализа малых поверхностей при исследовании больших образцов.

    THETA PROBE - спектрометр, совмещающий достоинства Sigma Probe с уникальной возможностью ARXPS.

    THETA 300 - XPS/ARXPS-спектрометр для исследования пластин диаметром до 300мм.

    ESCALAB 250 - рентгеновский фотоэлектронный спектрометр (XPS), отличающийся превосходными спектральным разрешением, чувствительностью, высокой скоростью регистрации изображения с разрешением ~ 1мкм.

    MICROLAB 350 - Оже-спектрометр (AES) высокого разрешения - максимальные пространственное разрешение и чувствительность при высочайших аналитических характеристиках.

    MULTILAB - семейство относительно недорогих гибких комбинированных систем, создаваемых по специальным требованиям заказчика.

(для XPS, ARXPS, AES, SAM, UPS, ISS, LEED, RHEED и STM):

• анализаторы
• рентгеновские источники
• ультрафиолетовые источники
• электронные пушки
• ионные источники
• RHEED-источники
• LEED-оптика
• программное обеспечение
• аксессуары