Вебинар по атомно-силовой микроскопии для анализа полимеров и нанокомпозитов 17 февраля 2015 г.

17 февраля 2015 г. в 11.00 мск. состоится третий вебинар из цикла вебинаров по атомно-силовой микроскопии: "Исследование полимеров и нанокомпозитов: от топографии к количественной характеризации механических свойств".

• Какие методы характеризации механических свойств дают качественные данные, а какие - количественные?
• Что выбрать: метод контактного резонанса или AM-FM микроскопию?
• Как исследовать адгезионные свойства материалов?
• Какую информация можно получить из измерений силовых кривых и как обработать полученные данные?

Эти и другие вопросы будут подробно освещены в ходе нашего вебинара. Участники вебинара смогут задать свои вопросы докладчику.

Докладчик: Иван Леонидович Волков, к.ф.-м.н., специалист по применению атомно-силовой микроскопии Московского представительства компании INTERTECH Corporation [email protected]

Участие в вебинаре - бесплатное, по предварительной регистрации. Число участников - ограничено. Зарегистрируйтесь сейчас, чтобы гарантированно принять участие в вебинаре 17 февраля 2015 г.

Специальный приз. Участник, отправивший до 16 февраля 2015 г. лучший вопрос по тематике вебинара на e-mail  , получит в подарок на выбор:

• книгу “Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization” (ред. Dalia G. Yablon) Содержание книги » или 
• книгу "Справочник по микроскопии для нанотехнологии". Авторы: Нан Яо, Чжун Лин Ван. Научный редактор: И. В. Яминский. Издательство "Научный мир". 712 стр, 2011 г. Содержание книги » 

О цикле вебинаров по атомно-силовой микроскопии »

Первый вебинар "Новейшие технологии в АСМ высокого разрешения: фототермическое возбуждение кантилевера, сканирование в контролируемой среде" состоялся 9 декабря 2014 г.

Второй вебинар "Исследование магнитных и электрических свойств материалов: от проводников до диэлектриков" состоялся 27 января 2015 г.

Запросы записи вебинаров направлять на e-mail