Новый вебинар по атомно-силовой микроскопии

27 января 2015 г. в 11.00 мск. состоится второй вебинар из цикла вебинаров по атомно-силовой микроскопии: "Исследование магнитных и электрических свойств материалов: от проводников до диэлектриков".

• Какие возможности предоставляет АСМ для исследования электрических и фотоэлектрических свойств поверхности?
• Для каких объектов применима электросиловая микроскопия, метод зонда Кельвина и микроскопия проводимости?
• В чем преимущество новой методики микроскопии импеданса микроволн (sMIM)?
• Как проводить исследования намагниченности образцов при приложении внешнего магнитного поля?

Эти и другие вопросы будут подробно освещены в ходе нашего вебинара. Участники вебинара смогут задать свои вопросы докладчику.

Докладчик: Иван Леонидович Волков, к.ф.-м.н., специалист по применению атомно-силовой микроскопии Московского представительства компании INTERTECH Corporation [email protected]

Участие в вебинаре - бесплатное, по предварительной регистрации. Число участников - ограничено. Зарегистрируйтесь сейчас, чтобы гарантированно принять участие в вебинаре 27 января 2015 г.

Специальный приз. Участник, отправивший до 26 января 2015 г. лучший вопрос по тематике вебинара на e-mail  , получит в подарок книгу "Справочник по микроскопии для нанотехнологии". Авторы: Нан Яо, Чжун Лин Ван. Научный редактор: И. В. Яминский. Издательство "Научный мир". 712 стр, 2011 г. Содержание книги » 

О цикле вебинаров по атомно-силовой микроскопии »

Первый вебинар "Новейшие технологии в АСМ высокого разрешения: фототермическое возбуждение кантилевера, сканирование в контролируемой среде" состоялся 9 декабря 2014 г. Запрос записи вебинара направлять на e-mail