8-800-200-42-25


Элементный анализ	Молекулярный анализ	Анализ поверхности и наноструктур	Термический анализ и реология	Мониторинг загрязнения воздуха	Анализ в управлении технологическими процессами

Новый динамический механический анализатор RSA-G2 TA Instruments

Последние новости

[08.03.2011]

Семинар в Перми
Читать далее»

[05.03.2011]

8 марта
Читать далее»

[05.03.2011]

9-я международная выставка по аналитической химии Aналитика Экспо-2011
Читать далее»

[24.02.2011]

7-я международная реологическая конференция AERC 2011
Читать далее»

[22.02.2011]

День защитника Отечества
Читать далее»

[17.01.2011]

6 - й вебинар Hysitron Inc. доступен для просмотра.
Читать далее»

[11.01.2011]

Новый режим АСМ от Asylum Research - Микроскопия Электрохимического Напряжения
Читать далее»

[27.12.2010]

Оптические и стилусные профилометры KLA - Tencor
Читать далее»

...История новостей

Ближайшие семинары

26.04.2011 - 29.04.2011
9-я специализированная выставка по аналитической химии "Аналитика Экспо-2011"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо"
Читать далее»

14.03.2011 - 18.03.2011
XV Международный симпозиум "Нанофизика и Наноэлектроника-2011"
г. Нижний Новгород, санаторий "Автомобилист"
Читать далее»

Новые разработки

	Исследование поверхности и наноструктур
	Термоанализ и реология
	Молекулярный анализ