На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Ближайшие семинары
27.06.2017 - 30.06.2017
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
30.05.2017 - 02.06.2017
Курс повышения квалификации по термоанализу
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
22.05.2017 - 31.05.2017
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
г. Санкт-Петербург, Гражданский пр-т, 11, "Институт Гипроникель"
Читать далее»
11.04.2017 - 13.04.2017
Специализированная выставка "Аналитика Экспо-2017"
МВЦ "Сокольники", г. Москва
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


  • Брошюра "Cypher - новое поколение исследовательских СЗМ высокого разрешения"

    В буклете представлен подробный обзор возможностей новейшего атомно-силового микроскопа Cypher

    Отправить запрос на полную статью

  • Cypher - исследовательский АСМ нового поколения
  • Корпоративная брошюра Asylum Research
  • Опции и аксессуары для атомно-силового микроскопа Cypher
  • Технологии Asylum Research. Совмещение оптических методик и атомно-силовой микроскопииОтправить запрос на полную статью

  • Новые методики СЗМ для анализа фотоэлектрических материалов и устройств

« вернуться


О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design