[ 07.03.2006 ]
Конкурс докладов по теме «Сканирующая зондовая микроскопия»
В рамках симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», проходящего в Нижнем Новгороде с 13 по 17 марта 2006г., компания INTERTECH Corporation проведет конкурс докладов по теме «Сканирующая зондовая микроскопия» с вручением ценных призов.

Номинации конкурса:
Лучший стендовый доклад
Лучший устный доклад
Лучшие тезисы доклада

Объявление победителей будет производиться 14 марта в 17ч. 30мин. на круглом столе по теме "Новое оборудование Veeco для сканирующей зондовой микроскопии", проводимом нашей компанией.

Будем рады встречи с Вами!